【導(dǎo)讀】在用戶進(jìn)行系統(tǒng)或者芯片測試的時候，一般主要驗證幾個方面的性能和可靠性，包括系統(tǒng)發(fā)送端的信號質(zhì)量，鏈路的損耗/串?dāng)_，接收端的容限。如下圖1，一個鏈路系統(tǒng)的基本架構(gòu)。通常在發(fā)送端會使用FFE來補償鏈路的損耗，接收端會采用DFE/FFE等方法來進(jìn)行均衡，一些比較高速率的標(biāo)準(zhǔn)如PCIE 4.0/5.0,SAS4等還會采用FEC來進(jìn)行糾錯，當(dāng)然接收端還需要CDR來從串行信號里面進(jìn)行時鐘恢復(fù)得到同步時鐘來對信號進(jìn)行采樣。
圖1：高速串行鏈路的基本架構(gòu)
對于系統(tǒng)/芯片的接收端測試，會有幾個方面的挑戰(zhàn)，第一是loopback (環(huán)回)模式的Training,第二是link（鏈路）training。只有這兩個部分的協(xié)商正確完成的前提下，才能保證測試的順利完成。不管是loopback training 還是link training，都要求Bert具備和被測設(shè)備自動的協(xié)商功能，通過基于協(xié)議的握手和雙向溝通去使被測設(shè)備進(jìn)入環(huán)回模式和均衡的自適應(yīng)。
如圖二，支持各種協(xié)議的系統(tǒng)/芯片在上電后會通過與對端設(shè)備的多次協(xié)商進(jìn)入不同的子狀態(tài)機(jī)，在接收端容限測試的時候需要使被測芯片的狀態(tài)機(jī)從Config或者Recovery狀態(tài)進(jìn)入loopback的子狀態(tài)，這個實現(xiàn)需要Bert模擬一個真正的對端設(shè)備去發(fā)送符合該協(xié)議的碼型系列去training 被測設(shè)備。同時Bert也要能實時的解析被測設(shè)備的協(xié)議系列以確認(rèn)其是否被成功training，否則需要重新修改設(shè)置來發(fā)送training的碼型序列。如圖3，泰克的BSX系列誤碼儀最高可以支持單通道32Gbps的實時數(shù)據(jù)發(fā)送和接收，可以直接產(chǎn)生和接收并同時解析協(xié)議的數(shù)據(jù)包，而不像其他廠商只能在較低速的時候?qū)崿F(xiàn)數(shù)據(jù)直接產(chǎn)生和接收，而高速標(biāo)準(zhǔn)則需要通過兩個通道合并成單通道進(jìn)行發(fā)送，并在接收端則將單通道再分解成兩個通道進(jìn)行接收。這樣會導(dǎo)致高速標(biāo)準(zhǔn)的時候不能實現(xiàn)真正基于協(xié)議的協(xié)商。
圖2：PCIe/USB3.1等協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的各種狀態(tài)機(jī)。
圖3:BSX系列誤碼儀支持單通道的高速協(xié)議數(shù)據(jù)的發(fā)送和接收解析
如圖3，除了loopback training以外，另一個重要的步驟是link training（鏈路協(xié)商），需要Bert和DUT進(jìn)行FFE/DFE的實時協(xié)商來補償鏈路的損耗，以達(dá)到最低的誤碼率。在USB3.1/PCIe協(xié)議中發(fā)送端會有多個級別的FFE來靈活對信號發(fā)送端進(jìn)行均衡補償，在接收端也會有CTLE和DFE多級組合來進(jìn)行補償。（詳細(xì)的鏈路協(xié)商步驟細(xì)節(jié)可以參考泰克的相關(guān)應(yīng)用文章-《克服第4代I/O應(yīng)用中的接收機(jī)測試挑戰(zhàn)》）。這個鏈路協(xié)商同樣需要Bert能夠在一定程度上去模擬一個真實設(shè)備和被測設(shè)備進(jìn)行溝通，解析并響應(yīng)被測設(shè)備的要求去調(diào)節(jié)信號輸出的FFE參數(shù)，并根據(jù)誤碼率來請求被測設(shè)備調(diào)節(jié)其輸出的FFE參數(shù)和接收端的CTLE/DFE參數(shù)，以達(dá)到最佳的誤碼率。同樣這個時候也需要BERT具備單通道直接輸出和接收并解析基于協(xié)議的碼型序列達(dá)到與被測設(shè)備的實時協(xié)商。
除了進(jìn)行一致性測試以外，對于芯片的驗證過程中還經(jīng)常會進(jìn)行問題定位，當(dāng)出現(xiàn)誤碼的時候，大部分工程師會去搬一臺示波器來使用示波器觀察信號波形來進(jìn)行抖動和眼圖分析來進(jìn)行調(diào)試，這時候得把信號重新連接到示波器來進(jìn)行信號的捕獲，而且并不容易把誤碼和示波器捕獲的波形直接關(guān)聯(lián)起來找到誤碼的原因。往往你旁邊并沒有一臺高帶寬示波器供你隨意使用。由于泰克的BSX系列誤碼儀能夠精確的統(tǒng)計誤碼的個數(shù)和誤碼出現(xiàn)的時間，所以能夠?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)的誤碼定位。這個強(qiáng)大的誤碼定位功能和抖動眼圖分析功能可以供你進(jìn)行系統(tǒng)和芯片級別的調(diào)試，下面會舉一些真實用戶使用Bert進(jìn)行調(diào)試分析的實例來說明。
案例一：使用誤碼儀Error Free interval功能來驗證芯片的自適應(yīng)時間。
客戶在做芯片IP的選型驗證，該芯片支持的速率為20.62bps,不同IP廠商會給出不同的芯片自適應(yīng)時間，一般為幾百微妙到幾百毫秒不等，如前面所述，有一些芯片的關(guān)鍵參數(shù)會影響到這個自適應(yīng)時間，如芯片的FFE/DFE的均衡自適應(yīng)時間，CDR的鎖定時間，誤碼判決電路的采樣點的自動調(diào)節(jié)等?？蛻舻男枨笫菧y試從芯片開始初始化那一刻直至誤碼率低至10^-12左右的時間。
圖4：連接拓?fù)鋱D
先按照上面圖4的連接圖連接好，將被測芯片設(shè)置為環(huán)回模式，設(shè)置Bertscope的PG輸出為被測速率，碼型設(shè)置為PRBS31，確認(rèn)CDR模塊可以正確鎖定，Error Detector能夠正確的Sync碼型，并且測試沒有誤碼。將Bert 的Error Detector端設(shè)置為Auto-resync。
然后選擇Bert scope的View里面的誤碼分析功能（Error analysis），選擇Error free interval。點擊Error free interval界面，設(shè)置,Hist的end 為500000(bit)，這個參數(shù)需要根據(jù)芯片的特性靈活調(diào)節(jié)，如果芯片的自適應(yīng)時間較長，則可以適當(dāng)增加，以保證整個自適應(yīng)過程的誤碼變化情況都能夠在所選的時間范圍之內(nèi)。這個界面的橫軸是bit，可以根據(jù)信號的速率轉(zhuǎn)化為絕對的時間，縱軸是誤碼個數(shù)。我們可以根據(jù)誤碼的變化從而計算出自適應(yīng)的收斂時間。設(shè)置好以后點擊auto center。然后點擊Run。
設(shè)置好誤碼儀后，用命令將芯片的RX部分進(jìn)行一次hot reset，這時候芯片會進(jìn)行一次時鐘恢復(fù)的同步，重新調(diào)節(jié)DFE，F(xiàn)FE，在Bertscope的Error Free interval里面就可以看到出現(xiàn)大量誤碼然后再慢慢減少到?jīng)]有誤碼的過程。在300000bit左右就不再出現(xiàn)誤碼，表示這個時候自適應(yīng)過程就已經(jīng)完成。為了保證測試結(jié)果的重復(fù)性和一致性，建議將這個hot reset的過程做十次，Error free interval會自動將這十次的結(jié)果進(jìn)行疊加。從測試的結(jié)果看，芯片的自適應(yīng)時間約為250000X(1/20.62G)約為12.5us左右。
案例二：使用誤碼的Strip chart的記錄功能來進(jìn)行長時間的誤碼分析。
由于客戶的系統(tǒng)要進(jìn)行長時間的(-20到+80度下)的高低溫老化測試，客戶要看誤碼的性能和溫度變化的相關(guān)性，一般的誤碼儀只能統(tǒng)計溫度變化過程中誤碼的總的個數(shù)和誤碼率，而無法得知在整個十幾個小時里面任一時刻誤碼率的變化。而BSX系列誤碼儀則可以使用Strip chart的記錄功能將整個過程中記錄下來，后面可以根據(jù)需要查詢?nèi)我鈺r刻的誤碼率變化情況。如下圖，在第10/20/30秒的時間點出現(xiàn)了一些突發(fā)的誤碼，這個如果僅僅是通過簡單的誤碼統(tǒng)計是無法看到時間相關(guān)的細(xì)節(jié)的，而且其累積記錄時間可以長達(dá)幾十小時甚至幾天。
圖5：使用Strip chart功能記錄整個長時間老化過程誤碼變化
案例四：使用誤碼儀的眼圖和抖動分析功能進(jìn)行信號特性的分析。
1.客戶在測試誤碼的同時想快捷的觀察TX端輸出信號的質(zhì)量，確保芯片輸出的信號是否滿足一定的要求。2.客戶想真正的測試10^12次方下的總體抖動的值，因為一般示波器的Tj都是通過測量RJ和DJ然后再通過一定的外推算法去得到10^12 次方下的抖動的，由于示波器存儲深度和計算時間的限制，無法得到真正的Tj@10^12。但誤碼儀是可以通過連續(xù)bit的測量從而得到真正的10^12的抖動的，并且其內(nèi)置的帶有兩個1bit的ADC在實時全速的對每個bit進(jìn)行掃描和比較，所以能夠快速的得到信號的眼圖（如圖7）。并根據(jù)每個bit的與采樣點的偏差計算該bit的TIE的抖動偏移量，從而通過算法計算信號的Rj/Dj并進(jìn)行抖動的進(jìn)一步細(xì)分。同時由于BSX系列的誤碼檢測輸入端的帶寬高達(dá)22GHz以上，所以對高速信號的眼圖和抖動分析的精度非常高。
圖6：Bertscope的誤碼檢測端自帶的兩個1bit ADC的比較器
圖7：眼圖分析功能
圖8：抖動分析功能
案例五：使用誤碼儀的FEC emulation 功能快速模擬芯片的FEC算法。
由于現(xiàn)在芯片和標(biāo)準(zhǔn)的速率越來越高，為了加強(qiáng)容錯能力，如SAS4/PCIe 4.0/5.0/25G以太網(wǎng)的標(biāo)準(zhǔn)都廣泛使用了FEC來進(jìn)行糾錯，即便是犧牲了一些額外的開銷，但能夠很大的降低誤碼率，也是值得的。
客戶的芯片的接收端可以支持FEC的糾錯功能，但要測試在不同的channel條件和不同的發(fā)送端均衡的設(shè)定下，芯片經(jīng)過FEC后的誤碼率能降低到多少，如果將信號直接環(huán)回到芯片的輸入端的話，需要不停的修改芯片的FEC的參數(shù)來進(jìn)行測試，但由于其芯片每修改一次FEC的參數(shù)如FEC的symbol size, block size，content size等等都需要重新對芯片進(jìn)行代碼編譯和下載，每次下載需要幾分鐘的時間，由于不同的條件都要測試，則組合數(shù)量很多，導(dǎo)致測試效率非常低。
但是BSX系列誤碼儀的FEC功能能夠靈活實時的調(diào)節(jié)上述各種FEC的參數(shù)，并且實時的更新經(jīng)過FEC后的誤碼率變化情況，而完全不需要重新下載芯片的代碼（如圖11和圖12）。大大的提高了測試和調(diào)試的效率，而且客戶也做過認(rèn)真的對比，誤碼儀對FEC后計算得到的誤碼率和其真實芯片經(jīng)過FEC的誤碼率是非常匹配的。這個功能使客戶之前幾天的時間進(jìn)行調(diào)試過程縮短到一天之內(nèi)完成，作為泰克工程師的我之前也沒有怎么用過這個功能，覺得它是個雞肋，當(dāng)現(xiàn)場看到客戶的調(diào)試過程后也是感嘆不已。
圖9：用戶的測試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
圖10：RS-FEC的設(shè)定，可以任意修改，即使生效。
圖11：FEC的仿真功能，實時計算出FEC之前和之后的誤碼率的變化。
案例六:使用BSX的pattern sensitivity的功能定位誤碼出現(xiàn)的特定比特位.
在客戶進(jìn)行誤碼測試的時候，由于鏈路的損耗和芯片的輸出特性，導(dǎo)致出現(xiàn)了誤碼，但客戶卻想知道究竟是哪一個bit位出現(xiàn)了誤碼，以定位誤碼出現(xiàn)的根源。設(shè)置Bert的輸出/輸入端設(shè)置為PRBS7的碼型，在誤碼分析功能里面選擇Patten Sensitivity，則可以直接觀察PRBS7的127個比特的每一位所出現(xiàn)誤碼的個數(shù)，看最多誤碼所對應(yīng)的比特位的前后特性，如下圖十三，移動光標(biāo)到任意一個比特上面，可以看到連續(xù)多個0而中間有一個1跳變的bit即127比特的第94比特出現(xiàn)誤碼的個數(shù)最多，達(dá)到5043598個誤碼。從而判斷由于鏈路ISI的影響導(dǎo)致突然的跳變位出現(xiàn)較高的誤碼率。
圖12：基于碼型系列的誤碼定位
從上述的用戶實際案例可以看出，Bertscope 的眼圖抖動和誤碼定位分析可以給客戶帶來很多調(diào)試的手段，把時域和誤碼極好的相關(guān)聯(lián)起來，幫用戶極大的提高了測試和調(diào)試的效率。
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