- 用示波器進行電源噪聲測試
- 測量時讓波形占滿屏幕可有效減少量化誤差
- 需要選擇合適的探頭
- 測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗
在電源噪聲測試中，通常有三個問題導致測量不準確：
1.示波器的量化誤差；
2.使用衰減因子大的探頭測量小電壓；
3.探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大；
示波器存在量化誤差。實時示波器的ADC為8位，把模擬信號轉化為2的8次方（即256個）量化的級別，如果顯示的波形只占屏幕很小一部分，則增大了量化的間隔，減小了精度。準確的測量需要調節示波器的垂直刻度（必要時使用可變增益），盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動態范圍。圖一中藍色波形信號（C3）的垂直刻度是紅色波形（C2）四分之一，對兩個波形的上升沿進行放大（F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)），然后對放大的波形作長余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯（即量化級別），而右下部分波形F2的階梯較少（即量化級別更少）。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數，可以發現占滿屏幕的信號C2的測量參數統計值的標準偏差小于后者的。說明了前者測量結果的一致性和準確性。
圖一 示波器ADC的量化誤差
通常測量電源噪聲，使用有源或者無源探頭，探測某芯片的電源引腳和地引腳，然后示波器設置為長余輝模式，最后用兩個水平游標來測量電源噪聲的峰峰值。這種方法有一個問題是，常規的無源探頭或有源探頭，其衰減因子為10，和示波器連接后，垂直刻度的最小檔位為20mV，在不使用DSP濾波算法時，探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例，如果按5％來算，其允許的電源噪聲為90mV，探頭的噪聲已經接近待測試信號的1/3，所以，用10倍衰減的探頭是無法準確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時，垂直刻度通常為5-10mV/div之間。
另外，探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要，當兩點相距較遠，會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中（如圖二所示），示波器觀察的波形包括了其他信號分量，導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距，減小環路面積。
圖四 測量某電腦主板DDR2的1.8V的電源噪聲
[page]在電源噪聲測試中，還存在示波器通道輸入阻抗選擇的爭議。示波器的通道有DC50/DC1M/AC1M三個選項可選（對于高端示波器，可能只有DC50一個選項）。一些工程師認為應該使用1M歐的輸入阻抗，另一些認為50歐的輸入阻抗更合適。
在測試中我們發現：如果使用1倍衰減的探頭測試，當示波器通道輸入為1M歐時，通常其測量出的電源噪聲大于50歐輸入阻抗的。原因是：高頻電源噪聲從同軸電纜傳輸到示波器通道后，當示波器輸入阻抗是50歐時，同軸電纜的特性阻抗50歐與通道的完全匹配，沒有反射；而通道輸入阻抗為1M歐時，相當于是高阻，根據傳輸線理論，電源噪聲發生反射。這樣，導致1M歐輸入阻抗是測試的電源噪聲高于50歐的。所以，測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗。
在準確測量到電源噪聲的波形后，可以計算出噪聲的峰峰值，如果電源噪聲過大，則需要分析噪聲來自哪些頻率，這時，需要對電源噪聲的波形進行FFT，轉化為頻譜進行分析。FFT中信號時間的長度決定了FFT后的頻譜分辨率，在力科示波器中，支持業界最大的128M個點的FFT，能準確定位電源噪聲來自于哪些頻率。
圖五 測量某3.3V的電源噪聲
如圖五所示為某光模塊的3.3V電源的噪聲。其噪聲的頻譜最高點的頻率為311.6KHz。這個光模塊輸出的1.25Gbps光信號的抖動測試中發現了同樣的312KHz的周期性抖動。在圖六中可以看到，把1.25G串行信號的周期性抖動分解后(Pj breakdown菜單)，發現312KHz的周期性抖動為63.7皮秒，在眼圖中也明顯可以觀察到抖動。通過這個案例說明，電源噪聲很可能導致一些高速信號的眼圖和抖動變差。對電源噪聲進行頻譜分析，能有效定位噪聲的來源，指引調試的方向。
圖六：某1.25Gbps信號的抖動和眼圖測試結果
在使用示波器測量電源噪聲時，為了保證測量精度，需要選擇足夠的采樣率和采集時間。
推薦采樣率在500MSa/s以上，這樣奈科斯特頻率為250M，可以測量到250MHz以下的電源噪聲。對于目前最普及的板級電源完整性分析，250M的帶寬已足夠。低于這個頻率的噪聲可以使用陶瓷電容、PCB上緊耦合的電源和地平面來濾波。而高于這個頻率的只能在封裝和芯片級的去耦措施來完成了。
波形的采集時間越長，則轉化為頻譜后的頻譜分辨率（即delta f）越小。通常我們的開關電源工作在10KHz以上，如果頻譜分辨率要達到100Hz的話，至少需要采集10ms長的波形，在500MSa/s采樣率時，示波器需要500MSa/s * 10 ms = 5M pts的存儲深度。
